Integrierte Nanoprobing-Plattform für elektrische Fehleranalysen

Status
Offen
Angebotsfrist
01.12.2026, 14:00 (Europe/Berlin)
Geschätzter Wert
Nicht angegeben
Lose
1
Erfüllungsregion
Bayern, Deutschland
Verfahren
Verfahrensart unbekannt
Auftragsart
Nicht angegeben
Veröffentlicht
30.10.2026
CPV-Codes
Rasterelektronenmikroskope (38511100)
Bekanntmachung
deutsche-evergabe.de
Bekanntmachungsnummer
25992028

Fragenkatalog

Deine Fragen an die Ausschreibung, beantwortet aus Bekanntmachung und Unterlagen.

Die 16 Unterlagen vom Vergabeportal sind noch nicht geladen. Bis dahin stützen sich die Antworten nur auf die Bekanntmachung.

Kurzbeschreibung

Die Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., IKTS, beschafft eine integrierte Nanoprobing-Plattform mit vier Sonden, erweiterter elektrischer Fehleranalyse (Advanced Electrical Failure Analysis, EFA) und Vakuum-Transfermodul (Vacuum Transfer Module, VTM). Das System soll hochsensitive, ortsaufgelöste elektrische Untersuchungen an verschiedenen Materialien für Mikroelektronik und Energieanwendungen in einem kombinierten Rasterelektronenmikroskop- und Ionenstrahlsystem ermöglichen; die Angebotsfrist endet am 1. Dezember 2026.

KI-Zusammenfassung · Maßgeblich ist die Originalbekanntmachung.

Auf einen Blick

KI-Auswertung der Bekanntmachung

So schnell verstehst du mit VergabeHero jede Ausschreibung.

Termin buchen

Leistungsbeschreibung

Beschaffung einer integrierten Nanoprobing-Plattform (4-Bot) mit Advanced Electrical Failure Analysis (EFA) und Vacuum Transfer Module (VTM) für hochsensitive, ortsaufgelöste elektrische Untersuchungen an unterschiedlichen Materialien für Mikroelektronik und Energieanwendungen in einem kombinierten SEM/FIB-System. Nanoprobing Plattform

Leistungen nach Losen (1)

  • LOT-0000 · Nanoprobing Plattform

    Beschaffung einer integrierten Nanoprobing-Plattform (4-Bot) mit Advanced Electrical Failure Analysis (EFA) und Vacuum Transfer Module (VTM) für hochsensitive, ortsaufgelöste elektrische Untersuchungen an unterschiedlichen Materialien für Mikroelektronik und Energieanwendungen in einem kombinierten SEM/FIB-System. Nanoprobing Plattform

    Frist: 01.12.2026, 01:00 (Europe/Berlin)

Vergabeunterlagen

16 Dateien laut Portal · Stand 30.10.2026
LV_424235.pdfLVLeistungsverzeichnis17 KB
000_Aufforderung_Angebotsabgabe_nat_evergabe.pdfAnschreiben175 KB
01_Angebotsschreiben.pdfAnschreiben244 KB
001_VergabebedingungenAwardConditions_04-26_IKTS.pdfSonstiges136 KB
02_Eigenerklärungen-Selfdeclaration_05-26 (deutsch).pdfFormular101 KB
02_Eigenerklärungen-Selfdeclaration_05-26 (englisch).pdfFormular73 KB
002_KfmBedingungenCommercialTerms_04-26_IKTS.pdfSonstiges180 KB
03_Export Classification Request Form.pdfSonstiges246 KB
003_ZuschlagskriterienAwardCriteria.pdfSonstiges53 KB
004_Antikorrup-AEB_04-26.pdfSonstiges771 KB
04_Fragebogen_zur_Eignungspruefung.pdfSonstiges133 KB
05_Leistungsverzeichnis (mit Abnahme).pdfLVLeistungsverzeichnis151 KB
005_NachhaltigkeitsstandardsSustainabilitystandards.pdfSonstiges442 KB
006_Detaillierte_Leistungsbeschreibung.pdfLVLeistungsverzeichnis169 KB
06_Technische_Details_techn.details.xlsxSonstiges169 KB
007_BankbürgschaftBankguarantee.pdfSonstiges196 KB

Änderungen und Bieterfragen

1 Eintrag
  1. 31.10.2026BekanntmachungBekanntmachung 25992028

Welche ähnlichen Ausschreibungen sind offen?

Alle ähnlichen Ausschreibungen anzeigen

Alle Angaben ohne Gewähr. Ausschreibungen können sich jederzeit ändern – wir übernehmen keine Gewähr für Aktualität, Vollständigkeit oder Richtigkeit der hier dargestellten Daten. Maßgeblich ist stets die Originalbekanntmachung des Auftraggebers.