Modulares Digitalmikroskopie- und Materialanalysesystem mit Elementanalyse
- Status
- Vergeben
- Angebotsfrist
- 10.07.2026, 10:00 (Europe/Berlin)
- Geschätzter Wert
- Nicht angegeben
- Lose
- 1
- Erfüllungsregion
- Sachsen-Anhalt, Deutschland
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Auftragsart
- Lieferleistung
- Veröffentlicht
- 11.06.2026
- CPV-Codes
- Mikroskope (38510000)
- Bekanntmachung
- evergabe-online.de
- Bekanntmachungsnummer
- 401244-2026
- Verfahrensnummer
- 6175ff72-14e0-430f-b01b-ed7a9b0dc156
Fragenkatalog
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Kurzbeschreibung
Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen in Halle (Saale) beschafft für Forschungs- und Entwicklungsarbeiten an elektronischen Bauteilen und optischen Gläsern ein modulares Digitalmikroskopie- und Analysesystem. Das System umfasst drei Arbeitsplätze, zwei eigenständig nutzbare Basissysteme, einen umsteckbaren Arbeitsplatz sowie verschiedene Optiken, Stative, Tischkonfigurationen und softwaregesteuerte Beleuchtungsmodi für Übersicht, hochauflösende Analyse, Messung, Dokumentation und quantitative Materialanalyse. Die Angebotsfrist endet am 10. Juli 2026 um 08:00 Uhr koordinierter Weltzeit.
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Leistungsbeschreibung
Das Fraunhofer Institut für Mikrostruktur von Materialien und Systemen benötigt für die Forschungs- und Entwicklungsarbeiten an elektronischen Bauteilen und optischen Gläsern ein modulares Digitalmikroskopsystem mit einer Element-Analyseeinheit, das wie folgt ausgelegt werden soll (siehe auch vorliegende Systembeschreibung): Beschafft werden soll ein modular aufgebautes, zusammenhängendes Digitalmikroskopie- und Analysesystem, bestehend aus drei Arbeitsplätzen, für den Einsatz in einer öffentlich geförderten Forschungseinrichtung. Das Gesamtsystem besteht aus zwei eigenständig nutzbaren Basissystemen sowie einem dritten, umsteckbaren Arbeitsplatz und ist so auszulegen, dass ein durchgängiger Workflow von der makroskopischen Übersicht über die hochauflösende Detailanalyse bis hin zur digitalen Messung, Dokumentation und quantitativen Materialanalyse (prozentuale Ausgabe) ermöglicht wird. Das System muss einen sehr breiten Anwendungsbereich abdecken. Es soll von großflächigen Übersichtsaufnahmen bis zur hochauflösenden Mikroanalyse sowie für unterschiedliche Materialien, Oberflächen, Probengrößen und Geometrien geeignet sein. Hierzu sind verschiedene Makro-, Übersichts- und Hochvergrößerungsoptiken sowie mehrere Stativ- und Tischkonfigurationen bereitzustellen. Unterschiedliche Beleuchtungs- und Betrachtungsmodi (z B. Hell- /Dunkelfeld, Polarisations- und Schrägbeleuchtung sowie DIC) müssen integriert und softwareseitig steuerbar sein.
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Leistungen nach Losen (1)
LOT-0000 · Digitalmikroskopie- und Analyseplattform
Das Fraunhofer Institut für Mikrostruktur von Materialien und Systemen benötigt für die Forschungs- und Entwicklungsarbeiten an elektronischen Bauteilen und optischen Gläsern ein modulares Digitalmikroskopsystem mit einer Element-Analyseeinheit, das wie folgt ausgelegt werden soll (siehe auch vorliegende Systembeschreibung): Beschafft werden soll ein modular aufgebautes, zusammenhängendes Digitalmikroskopie- und Analysesystem, bestehend aus drei Arbeitsplätzen, für den Einsatz in einer öffentlich geförderten Forschungseinrichtung. Das Gesamtsystem besteht aus zwei eigenständig nutzbaren Basissystemen sowie einem dritten, umsteckbaren Arbeitsplatz und ist so auszulegen, dass ein durchgängiger Workflow von der makroskopischen Übersicht über die hochauflösende Detailanalyse bis hin zur digitalen Messung, Dokumentation und quantitativen Materialanalyse (prozentuale Ausgabe) ermöglicht wird. Das System muss einen sehr breiten Anwendungsbereich abdecken. Es soll von großflächigen Übersichtsaufnahmen bis zur hochauflösenden Mikroanalyse sowie für unterschiedliche Materialien, Oberflächen, Probengrößen und Geometrien geeignet sein. Hierzu sind verschiedene Makro-, Übersichts- und Hochvergrößerungsoptiken sowie mehrere Stativ- und Tischkonfigurationen bereitzustellen. Unterschiedliche Beleuchtungs- und Betrachtungsmodi ( B. Hell- /Dunkelfeld, Polarisations- und Schrägbeleuchtung sowie DIC) müssen integriert und softwareseitig steuerbar sein.
Frist: 10.07.2026, 04:00 (Europe/Berlin)
Anforderungen an deinen Betrieb
Beim Fehlen von Angaben und/oder Unterlagen kann die Vergabestelle von der Möglichkeit zur Nachforderung gemäß §56 VgV Gebrauch machen. Macht die Vergabestelle davon Gebrauch und der Bieter hat nach Ablauf der für die Nachforderung gesetzten Frist die geforderten Angaben und/oder Unterlagen nicht vorgelegt, wird das Angebot vom weiteren Vergabeverfahren ausgeschlossen.
Wie wird das Angebot bewertet?
Kriterien ohne Loszuordnung
- Preis
- 60 %
- Lieferzeit
- 30 %
- Nachhaltigkeit
- 10 %
Vergabeunterlagen
Keine abgerufenen Dateien hinterlegt. Ein abgeschlossener Abruf ist nicht dokumentiert.
Zum UrsprungsportalAnforderungen
Beim Fehlen von Angaben und/oder Unterlagen kann die Vergabestelle von der Möglichkeit zur Nachforderung gemäß §56 VgV Gebrauch machen. Macht die Vergabestelle davon Gebrauch und der Bieter hat nach Ablauf der für die Nachforderung gesetzten Frist die geforderten Angaben und/oder Unterlagen nicht vorgelegt, wird das Angebot vom weiteren Vergabeverfahren ausgeschlossen.
Änderungen und Bieterfragen
1 Eintrag- 17.07.2026VergabebekanntmachungBekanntmachung 495974-2026
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