Rasterelektronenmikroskop mit Rasterkraft- und Magnetkraftmikroskopie-Modul
- Status
- Vergeben
- Angebotsfrist
- Nicht angegeben
- Geschätzter Wert
- 260.347 EUR
- Lose
- 1
- Auftraggeber
- Hochschule Kaiserslautern
- Erfüllungsregion
- Rheinland-Pfalz, Deutschland
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Auftragsart
- Lieferleistung
- Veröffentlicht
- 01.10.2026
- CPV-Codes
- Rasterelektronenmikroskope (38511100)
- Bekanntmachung
- ted.europa.eu
- Bekanntmachungsnummer
- 675117-2026
- Verfahrensnummer
- a2c83d02-046e-4305-b03b-34eb0c3729b1
Fragenkatalog
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Kurzbeschreibung
Die Hochschule Kaiserslautern beschafft ein Rasterelektronenmikroskop (REM) mit einem Modul für Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM) für wissenschaftliche Forschungszwecke. Das System soll Probenoberflächen hochauflösend darstellen und ihre topografischen sowie magnetischen Eigenschaften im Nanobereich untersuchen; Lieferung, Installation und Inbetriebnahme sind eingeschlossen. Der geschätzte Auftragswert beträgt rund 260.347 Euro, der Einsatzort liegt in Kaiserslautern. Ein Zeitrahmen ist nicht angegeben.
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Leistungsbeschreibung
Gegenstand dieses Vergabeverfahrens ist die Beschaffung eines kombinierten Rasterelektronenmikroskops (REM), das mit einem Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) ausgestattet ist. Das Gesamtsystem wird für wissenschaftliche Forschungszwecke beschafft. Es dient dazu, Probenoberflächen hochauflösend visuell darzustellen und gleichzeitig deren topografische sowie magnetische Eigenschaften im Nanobereich präzise zu analysieren.
Leistungen nach Losen (1)
LOT-0000 · 60236/Rasterelektronenmikroskop Starke
Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) einschließlich Lieferung, Installation und Inbetriebnahme. Beschreibung der Beschaffung (Art und Umfang der Dienstleistung bzw. Angabe der Bedürfnisse und Anforderungen) Gegenstand der Beschaffung ist die Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) für wissenschaftliche Anwendungen. Das System soll die Untersuchung und Charakterisierung unterschiedlicher Proben mittels Rasterelektronenmikroskopie (REM) sowie Raster-Kraft- und Magnet-Kraft-Mikroskopie (AFM/MFM) ermöglichen. Der Lieferumfang umfasst das vollständige Messsystem einschließlich erforderlicher Komponenten, Software, Zubehör, Lieferung, Installation, Inbetriebnahme sowie Einweisung der Anwender.
Wie wird das Angebot bewertet?
LOT-0000 · 60236/Rasterelektronenmikroskop Starke
- Preis
Vergabeunterlagen
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