Automatisierte Hochfrequenz-Probenstation für Chip-, Wafer- und Materialtests
- Status
- Vergeben
- Angebotsfrist
- 13.01.2026, 10:00 (Europe/Berlin)
- Geschätzter Wert
- Nicht angegeben
- Lose
- 1
- Auftraggeber
- Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12
- Erfüllungsregion
- Bayern, Deutschland
- Verfahren
- Verhandlungsverfahren mit Aufruf
- Auftragsart
- Lieferleistung
- Veröffentlicht
- 09.12.2025
- CPV-Codes
- Elektronische Messgeräte (38552000)
- Bekanntmachung
- vergabe.fraunhofer.de
- Bekanntmachungsnummer
- 816861-2025
- Verfahrensnummer
- a47df748-0b59-44b4-a91e-6d345b525fe5
Fragenkatalog
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Kurzbeschreibung
Die Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12 in München, beschafft eine automatisierte Hochfrequenz-Probenstation für Messungen an Chips, Wafern und Probenhaltern im Rahmen von Materialtests. Die Station soll für Millimeterwellen- und Subterahertz-Frequenzsonden geeignet sein und mindestens vier Frequenzverlängerer aufnehmen können. Vorgesehen ist ein Stück für den Standort München; die angegebene Dauer beträgt 240 Tage.
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Leistungsbeschreibung
RF Probe Station (EMFT-06.3)
Leistungen nach Losen (1)
LOT-0000 · RF Probe Station (EMFT-06.3) - PR1004509-2270-P
1 Stück Für die zuvor allgemein beschriebene Messstation wird eine automatisierte Probenstation angeschafft, um diese Messungen auf Chip, Wafer und Probenhaltern für Materialtests durchzuführen. Die Probenstation muss generell für mmWave- und SubTHz-Frequenzsonden geeignet sein. Die wichtigsten Anforderungen sind, dass die Probenstation mindestens vier Frequenzverlängerer tragen kann, sodass eine echte differentielle Gerätecharakterisierung auf einem 2-Port-Gerät ohne erneute Verbindung möglich ist. Darüber hinaus ist ein Mikroskopsystem erforderlich, das für mmWave- und SubTHz-Messungen auf Chip und Wafer geeignet ist, sowie eine Kamera. Der Chuck des Wafer-Probers sollte eine Theta-Drehung und die Bewegung in z-Richtung ermöglichen. Darüber hinaus wird ein thermisches Chuck-System benötigt, das Temperaturen von -40 °C bis 200 °C auf dem zu testenden Gerät gewährleistet. Im Allgemeinen sollte der Wafer-Prober eine automatische Steuerung des Prüfvorgangs und eine Steuerungssoftware mit Benutzeroberfläche bieten.
Anforderungen an deinen Betrieb
Es gelten alle einschlägigen zwingenden wie fakultativen Ausschlussgründe, die durch nationales Recht normiert sind. All relevant mandatory and optional grounds for exclusion stipulated by national law apply. Siehe Vergabeunterlagen See procurement documents
Wie wird das Angebot bewertet?
LOT-0000 · RF Probe Station (EMFT-06.3) - PR1004509-2270-P
- Technische Ausführung
- 50 %
- Preis
- 50 %
Vergabeunterlagen
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Zum UrsprungsportalAnforderungen
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Änderungen und Bieterfragen
1 Eintrag- 09.09.2026VergabebekanntmachungBekanntmachung 621664-2026
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