Vergabeentscheid
Zuschlag erteilt
Auftragsgewinner: Jeol (Germany) GmbH
Auftragswert
€0k
Zuschlag am
4. Aug. 2026
Hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop

Was wird ausgeschrieben
Die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg beschafft ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop für materialwissenschaftliche Untersuchungen. Der Auftrag umfasst neben dem Gerät selbst auch die notwendige Software, Zubehör, Installation sowie eine Einweisung und Schulung des Personals. Es handelt sich um ein offenes Verfahren zur Beschaffung von Laborausstattung.
Vollständige Beschreibung anzeigen
Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.
Die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg sucht ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop für ihre materialwissenschaftliche Forschung. Das Gerät muss sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuumbetrieb arbeiten können und mit spezieller Technik zur Röntgenanalyse sowie Software für automatisierte Messungen ausgestattet sein. Neben der Hardware sind auch die Lieferung, die fachgerechte Installation sowie eine umfassende Einweisung und Schulung der Nutzer Teil des Auftrags. Die Vergabe erfolgt über ein offenes Verfahren, bei dem sowohl der Preis als auch die technische Qualität des Systems zu gleichen Teilen bewertet werden.
Aufteilung in Lose
1 LotBeschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.
Zuschlagskriterien
2 Kriterien- price50%
Preis
- quality50%
https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/subproject/95d3c1ab-2452-4f9a-afff-8c2bf08c358a/awardcriteria
Zeitplan
- 5. Aug. 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 4. Aug. 2026Zuschlag erteiltZuschlag an Jeol (Germany) GmbH · €0k