Hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop
Was wird ausgeschrieben
Die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg beschafft ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop für materialwissenschaftliche Untersuchungen. Der Lieferumfang umfasst das Gerät inklusive Detektoren, Software, Zubehör sowie die Installation und Schulung des Personals. Das System muss für komplexe Aufgaben wie Elementanalysen und automatisierte Messabläufe geeignet sein.
Vollständige Beschreibung anzeigen
Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.
Die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg sucht ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop für ihre materialwissenschaftliche Forschung. Das Gerät soll sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuum arbeiten und mit spezieller Technik zur Röntgenanalyse sowie Software für automatisierte Messungen ausgestattet sein. Neben der Hardware sind auch die fachgerechte Installation und eine umfassende Einweisung der Nutzer Teil des Auftrags. Da es sich um ein hochspezialisiertes wissenschaftliches Gerät handelt, liegt der geschätzte Wert im mittleren sechsstelligen Bereich.
Zentrale Anforderungen
3 Punkte- Nachweis der Eignung gemäß § 123, 124 GWB
- Nachweis der Eignung gemäß § 57, 42 Abs. 1 VgV
- Nachweis der Eignung gemäß § 16 VOB/A
KI-zusammengefasst aus den offiziellen Eignungsanforderungen.
Eignungskriterien (Volltext)
Gemäß § 123, 124 GWB, § 57, 42 Abs. 1 VgV und § 16 VOB/A Gemäß § 56 Abs. 2 VgV, § 51 Abs. 2 SektVO, § 16a Abs. 1 VOB/A-EU. Mögliche Hinweise des Auftraggebers in den Vergabeunterlagen sind zu beachten.
Aufteilung in Lose
1 LotBeschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.
Zuschlagskriterien
2 Kriterien- price50%
Preis
- quality50%
https://www.evergabe.bayern.de/evergabe.bieter/api/supplier/external/subproject/95d3c1ab-2452-4f9a-afff-8c2bf08c358a/awardcriteria
Zeitplan
- 1. Juli 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 31. Juli 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung