Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops mit EDX-System
Was wird ausgeschrieben
Die Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe schreibt die Beschaffung eines analytischen Rasterelektronenmikroskops (REM) inklusive EDX-Analysesystem, Software und Schulung aus. Der Auftrag umfasst die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme des Geräts. Die Vergabe erfolgt als offenes Verfahren.
Vollständige Beschreibung anzeigen
Rasterelektronenmikroskop mit EDX entsprechend der Leistungsbeschreibung
Die Technische Hochschule Ostwestfalen-Lippe sucht einen Anbieter für ein neues Rasterelektronenmikroskop, kurz REM. Dabei handelt es sich um ein spezielles Mikroskop, das Oberflächen von Proben mit einem Elektronenstrahl extrem hochauflösend abbilden kann. Das System soll zudem mit einer EDX-Einheit ausgestattet sein, die eine chemische Analyse der untersuchten Materialien ermöglicht. Neben der reinen Hardware sind auch die Installation, die notwendige Software sowie eine Schulung für die Anwender Teil des Auftrags. Der Fokus bei der Auswahl liegt neben dem Preis vor allem auf der technischen Leistungsfähigkeit und der Benutzerfreundlichkeit des Systems.
Zentrale Anforderungen
7 Punkte- Einhaltung des Arbeitnehmer-Entsendegesetzes
- Einhaltung des Mindestlohngesetzes
- Einhaltung des Lieferkettensorgfaltspflichtengesetzes
- Nachweis der Eignung gemäß VgV und GWB
- Mindestgewährleistung von 12 Monaten
- Reaktionszeit im Servicefall von maximal 5 Werktagen
- Ersatzteilverfügbarkeit von mindestens 5 Jahren
KI-zusammengefasst aus den offiziellen Eignungsanforderungen. Verbindlich ist der Originaltext unten.
Eignungskriterien (Volltext)
§ 21 des Arbeitnehmer-Entsendegesetzes, § 98c des Aufenthaltsgesetzes, § 19 des Mindestlohngesetzes, § 21 des Schwarzarbeitsbekämpfungsgesetzes und § 22 des Lieferkettensorgfaltspflichtengesetzes vom 16. Juli 2021 (BGBl. I S. 2959) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 123 Abs. 1 Nr. 1 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 123 Abs. 1 Nr. 2 + 3 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 123 Abs. 1 Nr. 4 + 5 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 123 Abs. 1 Nr. 6 - 9 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 123 Abs. 1 Nr. 10 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 123 Abs. 4 Nr. 1 + 2 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V .m. §§ 122 Abs. 1, 123 Abs. 4 Nr. 1 + 2 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 1 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 2 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 3 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 4 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 5 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 6 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 7 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) § 42 Abs. 1 Vergabeverordnung (VgV) i. V. m. §§ 122 Abs. 1, 124 Abs. 1 Nr. 8 + 9 Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) Für den Fall, dass im Angebot oder Teilnahmeantrag eines Bieters eine oder mehrere der vorstehend geforderten Erklärungen und Nachweise fehlen sollten, unvollständig oder fehlerhaft sind, gilt § 56 Abs. 2 S. 1 VgV. Danach kann der Auftraggeber die Bieter auffordern, fehlende, unvollständige oder fehlerhafte unternehmensbezogene Unterlagen bis zum Ablauf einer zu bestimmenden Nachfrist nachzureichen, zu vervollständigen oder zu korrigieren. Die Bieter haben hierauf keinen Anspruch. Übt der Auftraggeber sein Ermessen dahingehend aus, dass er auf eine Nachforderung verzichtet, so führt dies zum Ausschluss des Angebots aus dem Vergabeverfahren.
Aufteilung in Lose
1 LotGegenstand der Ausschreibung ist die Lieferung, Installation und Inbetriebnahme eines analytischen Rasterelektronenmikroskops (REM) inklusive EDX-Analysesystem sowie erforderlicher Software, Peripherie und Schulungsleistungen.
Zuschlagskriterien
7 Kriterien- price40%
Preiskriterium für "Preis-Quotient-Methode"
- quality9.996%
10 Punkte: sehr intuitiv, hoher Automatisierungsgrad 5 Punkte: gute Benutzerführung, erweiterte Funktionen 0 Punkte: funktional, Standard
- quality0%
10 Punkte: sehr intuitiv, hoher Automatisierungsgrad 5 Punkte: gute Benutzerführung, erweiterte Funktionen 0 Punkte: funktional, Standard
- quality40.002%
Technische Leistungsfähigkeit REM mit W Kathode (LaB6 Aufrüstung machbar - Betrieb mit Strom; keine weiteren Medien wie Druckluft, Kühlwasser, Stickstoff - Probenkammer für die Aufnahme von Proben mit mind. 200mm Durchmesser - Probenbühne: 5-achsig motorisiert, x,y mindestens 100x100mm; Kippung bis 90°, Z-moto-risierung mindestens 75mm - Nieder- und Hochvakuum-Modus; Umschalten in der Software ohne manuelle Eingriffe - geeigneter SE-Detektor für den Niedervakuum-Modus - Simultaner Einzug von mind. 4 Bildsignalen - SE- und segmentierter (mind. 5-fach) BSE-Detektor - Probennavigation mit integrierter Farbkamera mit mind. 5MP - Automatische Bildaufnahme für großflächige Aufnahmen ("Stitching") - Nur ein PC für REM und EDX - Betriebssystem: Windows 11 - EDX mit einer Auflösung von 130eV oder besser und mind. 30mm2 aktive Fläche - Einzelmap mit mindestens 4000x3000 Pixel - Live EDX für Spektrum und Elementidentifizierung - Weitere Funktionen: Driftkorrektur, LineScan, serielle Analysen für Punkt, Mapping, Line-Scan, Spektral Imaging - Automatische Aufnahme und Montage von Elementmappings - Software mit Modellierungstool für das Anregungsvolumen Röntgenstrahlen, Sekundär- und Rückstreuelektronen - Energiegefilterte Abbildung - Live 3D Abbildung mit dem BSE Detektor - EDX System vom selben Hersteller - Zeitaufgelöstes EDX mit Playback Funktion - Live 3D EDX Mapping - Externes Bedienpanel - Zusätzliche Lizenzen für die Offlineauswertung Zubehör min. 5 Ersatzkathoden Probenaufnahme für 8 Stiftprobenteller Probenaufnahme für min. 16 Stiftprobenträger Klemmhalter für große Probenaufnahme Probenaufnahmen für metallographische Schliffe mit 30 mm und 40 mm Durch-messer Gewicht: max. 500 kg Abmessungen: ca. 2,000 mm × 2,500 mm × 1,800 mm Lieferung und Leistungen Der Auftragnehmer erbringt folgende Leistungen: - Lieferung frei Verwendungsstelle im Zeitraum zwischen 10.2026 bis 02.27 - Fachgerechte Installation und Inbetriebnahme - Funktionsprüfung und Abnahmeunterstützung - Einweisung des Bedienpersonals (mind. 2 Tage) - Applikationsschulung vor Ort Dokumentation Folgende Unterlagen sind bereitzustellen: - Technische Dokumentation (digital) - Bedienungsanleitung - Wartungs- und Servicekonzept - Bei Vorführgeräten: Zustandsbericht und Wartungshistorie
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Technische Leistungsfähigkeit REM mit W Kathode (LaB6 Aufrüstung machbar - Betrieb mit Strom; keine weiteren Medien wie Druckluft, Kühlwasser, Stickstoff - Probenkammer für die Aufnahme von Proben mit mind. 200mm Durchmesser - Probenbühne: 5-achsig motorisiert, x,y mindestens 100x100mm; Kippung bis 90°, Z-moto-risierung mindestens 75mm - Nieder- und Hochvakuum-Modus; Umschalten in der Software ohne manuelle Eingriffe - geeigneter SE-Detektor für den Niedervakuum-Modus - Simultaner Einzug von mind. 4 Bildsignalen - SE- und segmentierter (mind. 5-fach) BSE-Detektor - Probennavigation mit integrierter Farbkamera mit mind. 5MP - Automatische Bildaufnahme für großflächige Aufnahmen ("Stitching") - Nur ein PC für REM und EDX - Betriebssystem: Windows 11 - EDX mit einer Auflösung von 130eV oder besser und mind. 30mm2 aktive Fläche - Einzelmap mit mindestens 4000x3000 Pixel - Live EDX für Spektrum und Elementidentifizierung - Weitere Funktionen: Driftkorrektur, LineScan, serielle Analysen für Punkt, Mapping, Line-Scan, Spektral Imaging - Automatische Aufnahme und Montage von Elementmappings - Software mit Modellierungstool für das Anregungsvolumen Röntgenstrahlen, Sekundär- und Rückstreuelektronen - Energiegefilterte Abbildung - Live 3D Abbildung mit dem BSE Detektor - EDX System vom selben Hersteller - Zeitaufgelöstes EDX mit Playback Funktion - Live 3D EDX Mapping - Externes Bedienpanel - Zusätzliche Lizenzen für die Offlineauswertung Zubehör min. 5 Ersatzkathoden Probenaufnahme für 8 Stiftprobenteller Probenaufnahme für min. 16 Stiftprobenträger Klemmhalter für große Probenaufnahme Probenaufnahmen für metallographische Schliffe mit 30 mm und 40 mm Durch-messer Gewicht: max. 500 kg Abmessungen: ca. 2,000 mm × 2,500 mm × 1,800 mm Lieferung und Leistungen Der Auftragnehmer erbringt folgende Leistungen: - Lieferung frei Verwendungsstelle im Zeitraum zwischen 10.2026 bis 02.27 - Fachgerechte Installation und Inbetriebnahme - Funktionsprüfung und Abnahmeunterstützung - Einweisung des Bedienpersonals (mind. 2 Tage) - Applikationsschulung vor Ort Dokumentation Folgende Unterlagen sind bereitzustellen: - Technische Dokumentation (digital) - Bedienungsanleitung - Wartungs- und Servicekonzept - Bei Vorführgeräten: Zustandsbericht und Wartungshistorie
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Gewährleistung und Service - Mindestgewährleistung: 12 Monate - Reaktionszeit im Servicefall: max. 5 Werktage - Ersatzteilverfügbarkeit: mindestens 5 Jahre
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Gewährleistung und Service - Mindestgewährleistung: 12 Monate - Reaktionszeit im Servicefall: max. 5 Werktage - Ersatzteilverfügbarkeit: mindestens 5 Jahre
Zeitplan
- 11. Juni 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 13. Juli 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung