Hochfrequenz-Messsystem zur On-Wafer-Charakterisierung
Was wird ausgeschrieben
Das Ferdinand-Braun-Institut plant die Beschaffung eines hochpräzisen Messsystems für die elektrische Charakterisierung von Halbleiterbauelementen im Millimeterwellenbereich. Das System soll automatisierte Messungen unterstützen und in bestehende Reinraumumgebungen integriert werden. Die Ausschreibung ist für das Jahr 2026 vorgesehen.
Vollständige Beschreibung anzeigen
The Ferdinand-Braun-Institut (FBH) plans to procure a high-frequency RF measurement system for on-wafer characterisation within the framework of the EU-funded APECS programme. The system will be used for the electrical characterisation of semiconductor devices, circuits and demonstrators, including single-ended and differential measurements in the mmWave frequency range. It is intended to support advanced heterointegration processes and ensure reliable and high-quality measurement results. The equipment shall enable automated, high-precision measurements and provide a versatile platform for RF analysis, including network and spectrum measurements. It will be integrated into existing cleanroom and measurement environments. The procurement procedure is planned for 2026.
Das Ferdinand-Braun-Institut in Berlin sucht ein spezialisiertes Messsystem, um Halbleiterbauteile und Schaltkreise im Hochfrequenzbereich präzise zu testen. Das Gerät soll automatisierte Messungen ermöglichen, die für die Entwicklung moderner Mikrochips und deren Integration in komplexe Systeme notwendig sind. Da das System in bestehende Reinräume eingebunden wird, sind hohe Anforderungen an die Kompatibilität und Präzision zu erwarten. Die Beschaffung findet im Rahmen des APECS-Programms statt und ist für das Jahr 2026 geplant.
Aufteilung in Lose
1 LotThe Ferdinand-Braun-Institut (FBH) plans to procure a high-frequency RF measurement system for on-wafer characterisation within the framework of the EU-funded APECS programme. The system will be used for the electrical characterisation of semiconductor devices, circuits and demonstrators, including single-ended and differential measurements in the mmWave frequency range. It is intended to support advanced heterointegration processes and ensure reliable and high-quality measurement results. The equipment shall enable automated, high-precision measurements and provide a versatile platform for RF analysis, including network and spectrum measurements. It will be integrated into existing cleanroom and measurement environments. The procurement procedure is planned for 2026.
Zeitplan
- 12. Juni 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert