Modulares Messsystem fuer elektro-optische Komponenten (Lightwave Component Analyzer)
Was wird ausgeschrieben
Die Fraunhofer-Gesellschaft beschafft ein hochpraezises Messsystem zur Charakterisierung von elektro-optischen Komponenten wie Lasern, Modulatoren und Detektoren. Das System muss eine hohe Messwiederholbarkeit ohne haeufige Rekalibrierung gewaehrleisten. Die Auftragsdauer betraegt 270 Tage.
Vollständige Beschreibung anzeigen
Module lightwave component analyzer (ENAS-14.3)
Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht einen Anbieter fuer ein spezielles Messgeraet, einen sogenannten Lightwave Component Analyzer. Dieses Geraet wird in der Forschung benoetigt, um optische Bauteile wie Laser oder Detektoren exakt zu vermessen und deren Leistungsfaehigkeit zu pruefen. Das System muss besonders stabil arbeiten, damit Messungen ohne staendiges Nachjustieren verlaesslich wiederholt werden koennen. Der Auftrag umfasst die Lieferung eines einzelnen Systems innerhalb eines Zeitraums von 270 Tagen.
Zentrale Anforderungen
1 Punkte- Einhaltung der zwingenden und fakultativen Ausschlussgruende gemaess nationalem Recht
KI-zusammengefasst aus den offiziellen Eignungsanforderungen.
Eignungskriterien (Volltext)
Es gelten alle einschlägigen zwingenden wie fakultativen Ausschlussgründe, die durch nationales Recht normiert sind. All relevant mandatory and optional grounds for exclusion stipulated by national law apply. Siehe Vergabeunterlagen See procurement documents
Aufteilung in Lose
1 Lot1 Stück Module lightwave component analyzer (ENAS-14.3) Messsystem für die Charakterisierung elektrooptischer Komponenten mittels elektro-optischem S-Parameter Test (Lightwave Component Analyzer). Mit dem System sollen Laser, Modulatoren, Detektoren,und integrierte Receiver charakterisiert und getestet werden können. Wichtig ist dabei eine hohe Wiederholbarkeit der Messungen ohne zwischenzeitliche Rekalibrierung. Wichtig sind vor allem folgende Eigenschaften des Messsystems: - Messmöglichkeiten: Elektrisch/Optisch, O/E, E/E und O/O - Netzwerkanalysator mit 2 Ports, Frequenzbereich bis mindestens 40 GHz - Laserwellenlänge 1550 nm und Integrationsmöglichkeit einer externen Laserquelle Optionen: 1.6 Analysator für optische Komponenten/Optischer Netzwerkanalysator automatische Kalibrierung des VNA optional als Ersatz für Pos. 1.5
Zuschlagskriterien
3 Kriterien- quality55%
Technische Kriterien
- quality10%
Nachhaltigkeit
- price35%
Preis
Zeitplan
- 23. Juli 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 24. Aug. 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung