Lieferung eines Röntgenphotoelektronenspektroskops (XPS)
Was wird ausgeschrieben
Das Deutsche Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) schreibt die Beschaffung eines hochauflösenden Röntgenphotoelektronenspektroskops (XPS) zur Oberflächencharakterisierung aus. Der Auftrag umfasst neben der Lieferung des Analysegeräts auch die Installation, Schulung des Personals sowie Serviceleistungen. Das Gerät soll spezifische wissenschaftliche Anforderungen der DLR-Forschung erfüllen.
Vollständige Beschreibung anzeigen
Gegenstand der Ausschreibung ist die Beschaffung eines hochauflösenden Analysegeräts zur Oberflächencharakterisierung inkl. erweiterbarer Module, Installation, Schulung und Service. Um die spezifischen wissenschaftlichen Fragestellungen aus unserem GI-Antrag und der DLR-weiten Forschung berücksichtigen zu können, ist ein maßgeschneidertes hochauflösendes XPS notwendig.
Das Deutsche Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) sucht ein hochauflösendes Analysegerät, ein sogenanntes Röntgenphotoelektronenspektroskop (XPS), um Oberflächen von Materialien präzise zu untersuchen. Neben der reinen Hardware-Lieferung sind auch die fachgerechte Installation, eine umfassende Einweisung der Mitarbeiter sowie langfristige Wartungs- und Serviceleistungen Teil des Auftrags. Das Gerät wird für spezialisierte Forschungsaufgaben innerhalb des DLR benötigt und muss entsprechend maßgeschneidert geliefert werden. Die Vergabe erfolgt zu 40 Prozent über den Preis und zu 60 Prozent über qualitative Kriterien wie Automatisierbarkeit, Garantie und Schulungsumfang.
Zentrale Anforderungen
1 Punkte- Einhaltung der Ausschlussgründe gemäß §§ 123 und 124 GWB
KI-zusammengefasst aus den offiziellen Eignungsanforderungen.
Eignungskriterien (Volltext)
Der Katalog der Ausschlussgründe ergibt sich aus §§ 123 und 124 GWB. Der Auftraggeber kann eine Aufklärung über Inhalte der Angebote und Eignungsunterlagen betreiben und Unterlagen nachfordern. Die Grundsätze der Gleichbehandlung und Nichtdiskriminierung werden dabei beachtet.
Aufteilung in Lose
1 LotBeschaffung eines hochauflösenden Analysegeräts zur Oberflächencharakterisierung inkl. erwei-terbarer Module, Installation, Schulung und Service.
Zuschlagskriterien
2 Kriterien- price
40% Preis – Max. 400 Punkte
- quality
2. 60% Leistung – Max. 600 Punkte - Grad der Automatisierbarkeit: 10% - Garantie- / Gewährleistungsdauer: 5% - Leistungsumfang Wartung & Instandsetzung: 10% - Umfang Mitarbeiterschulung: 5% - Lieferzeit: 5% - Leistungsumfang Messmethodik: 17% - Nutzerfreundlichkeit: 8%
Zeitplan
- 29. Juni 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 27. Juli 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung