Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen

Beschleunigungsspannung

SE-Auflösung <= 1 nm bei 15 kV (WD=4mm und mit 200.000 X Vergrößerung

SE-Auflösung <= 1nm bei 1KV (WD=2mm bei 160.000X Vergrößerung)

Laterale Auflösung <= 1 nm bei 15 kV, bei Anschluss aller Komponenten (BSE- und EDXS-System)

Laterale Auflösung <= 1.6 nm bei 1 kV bei Anschluss aller Komponenten (BSE- und EDXS-System)

Evakuierungszeit der Schleuse

Vergrößerung

Bildauflösung

Probentisch ermöglicht definierte Kippung im Bereich von mind. -5° bis mind. 45°

Preiskomponente Nr. 1 Preis Lieferung Gerät (20%), Preiskomponente Nr. 2 Optionen: 2.1 Kosten Ersatzkathode inkl. Einbau (2%), 2.2 Kosten pro User Lizenz für eine Bürolizenz zur nachträglichen Bildbearbeitung (4%),Kosten für Instandhaltungsvertrag (nach Ablauf der Gewährleistungsfrist von 24 Monaten) (4%)