Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops mit EDXS-Analysesystem

Ferdinand-Braun-Institut gGmbH, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik

Berlin, Germany·Veröffentlicht 15. Juni 2026

Labor- und MedizintechnikForschung und EntwicklungForschung und LehreÖffentliche VerwaltungLaborausstattungMikroskopieForschung Und EntwicklungAnalysetechnikWissenschaftliche Geraete

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Auftragswert

~€350k

Geschätzt · Konfidenz low

Einreichungsfrist

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Leistungsbeschreibung

Was wird ausgeschrieben

Das Ferdinand-Braun-Institut in Berlin schreibt die Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops inklusive EDXS-Analysesystem aus. Der Auftrag umfasst neben der Hardware auch die Installation sowie Wartungs- und Supportleistungen. Die Vergabe erfolgt im Rahmen eines nicht offenen Verfahrens.

Vollständige Beschreibung anzeigen

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)

VergabeHero-Einschätzung

Das Ferdinand-Braun-Institut für Höchstfrequenztechnik in Berlin sucht einen Anbieter für ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop, das mit einem EDXS-System zur chemischen Elementaranalyse ausgestattet ist. Neben der reinen Hardware-Lieferung sind auch die fachgerechte Installation sowie langfristige Wartungs- und Supportleistungen Teil des Auftrags. Die Auswahl des Anbieters erfolgt anhand technischer Leistungskriterien, wie etwa der Bildauflösung und der Beschleunigungsspannung, sowie über den Preis. Da es sich um hochspezialisierte wissenschaftliche Laborausrüstung handelt, ist eine hohe technische Expertise bei der Installation und Kalibrierung erforderlich.

Lose

Aufteilung in Lose

1 Lot

LOT-0000Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskop mit EDXS-Analysesystem einschließlich Nebenleistungen (Installation, Wartung, Support)

CPV 38510000, 38511100

Bewertung

Zuschlagskriterien

11 Kriterien

quality
Kathode
4%
quality
Beschleunigungsspannung
10%
quality
SE-Auflösung <= 1 nm bei 15 kV (WD=4mm und mit 200.000 X Vergrößerung
4%
quality
SE-Auflösung <= 1nm bei 1KV (WD=2mm bei 160.000X Vergrößerung)
4%
quality
Laterale Auflösung <= 1 nm bei 15 kV, bei Anschluss aller Komponenten (BSE- und EDXS-System)
10%
quality
Laterale Auflösung <= 1.6 nm bei 1 kV bei Anschluss aller Komponenten (BSE- und EDXS-System)
10%
quality
Evakuierungszeit der Schleuse
8%
quality
Vergrößerung
8%
quality
Bildauflösung
8%
quality
Probentisch ermöglicht definierte Kippung im Bereich von mind. -5° bis mind. 45°
4%
price
Preiskomponente Nr. 1 Preis Lieferung Gerät (20%), Preiskomponente Nr. 2 Optionen: 2.1 Kosten Ersatzkathode inkl. Einbau (2%), 2.2 Kosten pro User Lizenz für eine Bürolizenz zur nachträglichen Bildbearbeitung (4%),Kosten für Instandhaltungsvertrag (nach Ablauf der Gewährleistungsfrist von 24 Monaten) (4%)
30%

Zeitleiste

Zeitplan

15. Juni 2026
Bekanntmachung veröffentlicht
Auf TED publiziert