Vergabeentscheid

Zuschlag erteilt

Auftragsgewinner: unbekannt

Auftragswert

unbekannt

TED·413232-2026

Halbleiter-Testsystem für Mixed-Signal-Anwendungen

Bayern
München, Germany·Veröffentlicht 16. Juni 2026
IT-DienstleistungenLabor- und ForschungstechnikForschung und EntwicklungÖffentliche VerwaltungHalbleiterMesstechnikForschung Und EntwicklungLaborausstattungMikroelektronik
Auftragswert
~€225k
Geschätzt · Konfidenz low
Einreichungsfrist
Leistungsbeschreibung

Was wird ausgeschrieben

Die Fraunhofer-Gesellschaft beschafft ein Mixed-Signal-Testsystem für die Post-Silicon-Verifizierung, Charakterisierung und funktionale Prüfung von integrierten Schaltkreisen und Chiplets. Das System muss mit industriellen Standard-Wafer-Probing- und Device-Handling-Systemen kompatibel sein und eine bestehende Testinfrastruktur am Fraunhofer EMFT ergänzen. Die Vertragslaufzeit beträgt 150 Tage.

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SOC Test System

VergabeHero-Einschätzung

Das Fraunhofer-Institut für Mikrosystemtechnik und Festkörper-Technologie (EMFT) sucht ein spezialisiertes Testsystem für Halbleiter, um komplexe Mikrochips und sogenannte Chiplets zu prüfen. Das Gerät wird für die sogenannte Post-Silicon-Verifizierung eingesetzt, bei der nach der Herstellung der Chips deren Funktionalität und Leistung unter realen Bedingungen getestet wird. Da das System in eine bestehende Laborumgebung integriert werden soll, ist eine hohe Kompatibilität mit bereits vorhandenen industriellen Standards für das Wafer-Handling zwingend erforderlich. Der Auftrag ist auf eine Liefer- und Implementierungszeit von 150 Tagen ausgelegt.

Lose

Aufteilung in Lose

1 Lot
LOT-0000SOC Test System - PR1133981-2270-W

This specification describes the requirements for a semiconductor test system (mixed-signal test system) to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The test system must provide interfaces that allow connection with an industrial standard wafer probing system as well as with an industrial standard device handling system. The test system has to be compatible in Hard- and Software to an already existing Advantest V93000 test system in the Fraunhofer-Gesellschaft. With Option 1: an extended warranty contract Option 2: a service contract Option 3: A maintanance support contract

CPV 38540000150 Tage Laufzeit
Bewertung

Zuschlagskriterien

2 Kriterien
  • quality

    Technische Ausführung

    65%
  • price

    Preis

    35%
Zeitleiste

Zeitplan

  1. 16. Juni 2026
    Bekanntmachung veröffentlicht
    Auf TED publiziert

Alle Angaben ohne Gewähr. Ausschreibungen können sich jederzeit ändern – wir übernehmen keine Gewähr für Aktualität, Vollständigkeit oder Richtigkeit der hier dargestellten Daten. Maßgeblich ist stets die Originalbekanntmachung des Auftraggebers.

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