Beschaffung eines CD-SEM Rasterelektronenmikroskops
Was wird ausgeschrieben
Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Lieferung eines CD-SEM Rasterelektronenmikroskops aus. Das Gerät dient hochpräzisen Messungen in der Halbleiterfertigung oder Materialforschung. Die Vertragslaufzeit ist auf 420 Tage angesetzt.
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PR1153351-2390-W CD-SEM Rasterelektronenmikroskop
Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht für ihre Forschungstätigkeiten ein spezielles CD-SEM Rasterelektronenmikroskop. Ein CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) ist ein hochspezialisiertes Messgerät, das in der Nanotechnologie und Halbleiterindustrie eingesetzt wird, um kleinste Strukturen auf Oberflächen präzise zu vermessen. Der Auftrag umfasst die Lieferung und Inbetriebnahme des Geräts innerhalb eines Zeitraums von 420 Tagen. Die Entscheidung für den Anbieter erfolgt zu gleichen Teilen basierend auf dem Preis und der technischen Qualität des Mikroskops.
Zentrale Anforderungen
1 Punkte- Einhaltung der nationalen Ausschlussgründe gemäß Vergabeunterlagen
KI-zusammengefasst aus den offiziellen Eignungsanforderungen.
Eignungskriterien (Volltext)
Es gelten alle einschlägigen zwingenden wie fakultativen Ausschlussgründe, die durch nationales Recht normiert sind. Siehe Vergabeunterlagen
Aufteilung in Lose
1 LotCD-SEM Rasterelektronenmikroskop
Zuschlagskriterien
2 Kriterien- price50%
Preis
- quality50%
Technische Ausführung
Zeitplan
- 20. Juli 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 22. Juni 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung