Beschaffung eines CD-SEM Rasterelektronenmikroskops
Was wird ausgeschrieben
Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Lieferung eines CD-SEM Rasterelektronenmikroskops aus. Der Auftrag umfasst die Bereitstellung des hochspezialisierten Messgeräts für die Halbleiteranalytik innerhalb eines Zeitrahmens von 420 Tagen. Es handelt sich um ein Verhandlungsverfahren ohne vorherige Bekanntmachung.
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PR1153351-2390-W CD-SEM Rasterelektronenmikroskop
Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht ein hochpräzises CD-SEM Rasterelektronenmikroskop. Ein CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electron Microscope) ist ein spezielles Mikroskop, das in der Halbleiterindustrie eingesetzt wird, um kleinste Strukturen auf Wafern extrem genau zu vermessen. Das Gerät wird für Forschungszwecke benötigt und soll innerhalb von 420 Tagen geliefert werden. Die Vergabe erfolgt nach einer Mischung aus technischer Qualität und dem Preis. (interne Bezeichnung des Auftraggebers: PR1153351-2390-W)
Zentrale Anforderungen
2 Punkte- Einhaltung der gesetzlichen Ausschlussgründe nach nationalem Recht
- Erfüllung der technischen Spezifikationen gemäß Vergabeunterlagen
KI-zusammengefasst aus den offiziellen Eignungsanforderungen.
Eignungskriterien (Volltext)
Es gelten alle einschlägigen zwingenden wie fakultativen Ausschlussgründe, die durch nationales Recht normiert sind. Siehe Vergabeunterlagen
Aufteilung in Lose
1 LotCD-SEM Rasterelektronenmikroskop
Zuschlagskriterien
2 Kriterien- quality50%
Technische Ausführung
- price50%
Preis
Zeitplan
- 20. Mai 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 16. Juni 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung