Vergabeentscheid
Zuschlag erteilt
Auftragsgewinner: unbekannt
Auftragswert
unbekannt
Beschaffung eines Waferprober- und Frameprober-Systems
Was wird ausgeschrieben
Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht einen Waferprober für das Fraunhofer EMFT zur Charakterisierung und Prüfung von integrierten Schaltkreisen. Das System muss sowohl 200mm- als auch 300mm-Wafer sowie auf Rahmen montierte Wafer verarbeiten können und an ein automatisiertes Testsystem angebunden werden. Die Lieferfrist beträgt 150 Tage.
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Waferprober / Frameprober
Das Fraunhofer-Institut für Mikrosysteme und Festkörper-Technologien (EMFT) benötigt ein hochspezialisiertes Prüfsystem für die Halbleiterforschung. Ein Waferprober ist ein Gerät, das einzelne Chips auf einer Siliziumscheibe (Wafer) kontaktiert, um deren Funktion zu testen. Das neue Gerät soll sowohl Standard-Wafer in verschiedenen Größen als auch auf Rahmen montierte Wafer verarbeiten können, um eine flexible Analyse von komplexen Chips und sogenannten Chiplets zu ermöglichen. Das System wird direkt in eine automatisierte Testumgebung integriert. Die Vergabe erfolgt zu 65 Prozent nach technischer Qualität und zu 35 Prozent nach dem Preis.
Aufteilung in Lose
1 LotThis specification describes the requirements for a wafer prober system to be used for post-silicon verification, characterization and functional test of integrated circuits and chiplets at Fraunhofer EMFT. The wafer prober system must be able to handle 200mm and 300mm wafers and in addition wafers mounted on a dicing frame (frame prober function). This allows a very flexible usage for different analysis and test situations. The wafer prober will be coupled with an automated test system (ATE). With Option 1: an extended warranty contract Option 2: a service contract Option 3: maintanance support contract
Zuschlagskriterien
2 Kriterien- quality65%
Technische Ausführung
- price35%
Preis
Zeitplan
- 17. Juni 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert