Beschaffung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (XPS)

Was wird ausgeschrieben
Das Leibniz-Institut für Polymerforschung Dresden (IPF) schreibt die Lieferung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (XPS) aus. Das Gerät dient der qualitativen und quantitativen Analyse der stofflichen Zusammensetzung von Oberflächen und oberflächennahen Schichten. Die Ausschreibung erfolgt im Rahmen eines offenen Verfahrens.
Vollständige Beschreibung anzeigen
IPF 26015 Röntgen-Photoelektronenspektrometers für das IPF
Das Leibniz-Institut für Polymerforschung in Dresden sucht ein hochpräzises Röntgen-Photoelektronenspektrometer, kurz XPS genannt. Mit diesem Gerät können Forscher die chemische Zusammensetzung von Oberflächen und dünnen Schichten genau untersuchen, etwa um funktionelle Gruppen oder den Oxidationszustand von Elementen zu bestimmen. Da es sich um ein hochspezialisiertes wissenschaftliches Analysegerät handelt, ist eine hohe energetische Auflösung zwingend erforderlich. Der Auftrag wird an den Anbieter mit dem wirtschaftlichsten Angebot vergeben, wobei der Preis das entscheidende Kriterium ist.
Zentrale Anforderungen
2 Punkte- Nachweis über das Nichtvorliegen von Ausschlussgründen gemäß §§ 123 bis 126 GWB
- Einhaltung der Sanktionsvorgaben gemäß EU-Verordnung 2022/576
KI-zusammengefasst aus den offiziellen Eignungsanforderungen.
Eignungskriterien (Volltext)
Schwere Verfehlung • Schwere Verfehlungim Rahmen der beruflichen Tätigkeit:Zwingende bzw. fakultative Ausschlussgründenach §§ 123 bis 126 GWB • Der Katalogder Ausschlussgründe ergibt sich ausden §§ 123 und 124 GWBZugehörigkeit zum in der Vorschrift Artikel5k des EU Sanktionspaketes (Verordnung EU2022/576)genannten Unternehmens- und/oder Personenkreis .
Aufteilung in Lose
1 LotFür qualitative und quantitative Untersuchungen zur stofflichen Zusammensetzung von festen Oberflächen und oberflächennahen Schichten beabsichtigt das Leibniz-Institut für Polymer-forschung Dresden e. V. (IPF) die Beschaffung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (XPS). Strukturanalytische Untersuchungen zur Art und Anzahl funktioneller Oberflächengrup-pen sowie der Wunsch nach Bestimmung des Oxidationszustandes einzelner Elemente erfor-dern eine hohe energetische Auflösung des Spektrometers (High-resolution XPS) bei einer möglichst hohe Zählrate. Möglichkeiten zu tiefenanalytischen Untersuchungen unter Varia-tion des Take-off-Winkels aber auch durch Sputtern (Depth profiling) sind erwünscht. Bildge-bende Verfahren (Imaging XPS) zur Gewinnung von Informationen über die laterale Verteilung von Elementen und/oder funktioneller Gruppen sollen integraler Bestandteil des Spektrome-ters sein. Untersuchungsgegenstände sind vorzugsweise organische polymere Stoffe, die in Form dünner Filme, als Spritzgussplatten, als Granulate, als Fasern oder als Pulver vorliegen können. Auch für die Untersuchung anderer Materialien, wie bspw. Metalle, Metalloxide, keramische Materialien, die Allotropen des Kohlenstoffs (Ruße, Fulleren, Carbon-Nanotubes, Kohlenstoff-fasern u.a.) sowie Hybridmaterialien, die aus Polymeren und den hier genannten anderen Ma-terialien gebildet werden, soll das Spektrometer geeignet sein. Zum Erhalt ihrer makroskopi-schen Struktur erfordern XPS-Untersuchungen biologischer Präparate und Polyelektrolytfilme das Spektroskopieren bei tiefen Temperaturen (Cryo-XPS); das Verfolgen von Polyadditionen und Ringöffnungspolymerisationen das Arbeiten bei erhöhter Temperatur (> 300 °C).
Zuschlagskriterien
1 Kriterien- price
Der Zuschlag wird auf das wirtschaftlichste Angebot mit dem niedrigsten Bruttogesamtwertungspreis (gemäß Wertungsschma) erteilt.
Zeitplan
- 19. Juni 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 23. Juli 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung