Beschaffung eines fokussierten Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskops (FIB-REM)

Das Forschungsinstitut fem in Schwäbisch Gmünd sucht ein neues fokussiertes Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop, kurz FIB-REM genannt. Dieses hochkomplexe wissenschaftliche Gerät wird in der Materialforschung eingesetzt, um Oberflächen im Nanometerbereich zu untersuchen und gezielt zu bearbeiten. Da es sich um ein offenes Verfahren handelt, können sich spezialisierte Hersteller und Anbieter von Laborausrüstung bewerben. Die genauen technischen Anforderungen sind im Leistungsverzeichnis der Ausschreibung hinterlegt.