Beschaffung eines FIB- und SEM-Systems
Was wird ausgeschrieben
Die Fraunhofer-Gesellschaft schreibt die Beschaffung eines kombinierten FIB- (Focused Ion Beam) und SEM-Systems (Scanning Electron Microscope) aus. Das System dient der hochauflösenden Materialanalyse und Nanostrukturierung in der Forschung. Die Ausschreibung erfolgt im Rahmen eines Verhandlungsverfahrens mit Teilnahmewettbewerb.
Die Fraunhofer-Gesellschaft sucht für ihre Forschungsaktivitäten ein kombiniertes System aus einem fokussierten Ionenstrahl-Gerät (FIB) und einem Rasterelektronenmikroskop (SEM). Diese hochspezialisierten Geräte werden in der Materialwissenschaft eingesetzt, um kleinste Strukturen im Nanometerbereich zu untersuchen und gezielt zu bearbeiten. Da es sich um komplexe wissenschaftliche Laborausrüstung handelt, erfolgt die Vergabe in einem Verhandlungsverfahren, bei dem die technischen Anforderungen im Dialog mit den Bietern präzisiert werden können. Interessierte Unternehmen sollten Erfahrung in der Lieferung von hochpräziser Analysetechnik für Forschungseinrichtungen mitbringen.
Zeitplan
- 26. Juni 2026Bekanntmachung veröffentlichtQuelle: servicebund
- 24. Juli 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung