Beschaffung einer Röntgenphotoelektronenspektroskopieplattform (XPS)
Was wird ausgeschrieben
Das Deutsche Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) schreibt die Lieferung einer hochauflösenden Röntgenphotoelektronenspektroskopieplattform (XPS) aus. Das Gerät soll für die Analyse von Oberflächeneigenschaften technischer Materialien unter variablen Umgebungsbedingungen eingesetzt werden. Die Plattform muss spezifische Zusatzmodule für UV-Photoelektronenspektroskopie und weitere spektroskopische Verfahren enthalten.
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Eine Röntgenphotoelektronenspektroskopieplattform (XPS) wird für die Untersuchung von temperatur- und umgebungsbedingten Veränderungen der chemischen Zustände der Oberflächen von technischen Materialien, funktionalen Oberflächen, Beschichtungen sowie Pulvern genutzt. Um die spezifischen wissenschaftlichen Fragestellungen der DLR-weiten Forschung berücksichtigen zu können, ist ein maßgeschneidertes hochauflösendes XPS notwendig, das mit einer UV-Strahlungsquelle für Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie , einem Modul für Reflektions-Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie und entweder einem Modul für Ionenstreuspektroskopie oder einem Modul für (Niederenergie-)Inverse-Photoemissionsspektroskopie ausgestattet ist. Dieses soll mit dieser Ausschreibung beschafft werden
Das Deutsche Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) sucht ein spezialisiertes Analysegerät, eine sogenannte Röntgenphotoelektronenspektroskopieplattform (XPS). Mit diesem Gerät können Wissenschaftler die chemische Zusammensetzung von Oberflächen bei unterschiedlichen Temperaturen und Umgebungsbedingungen genau untersuchen, was für die Forschung an neuen Materialien und Beschichtungen entscheidend ist. Da das Gerät für sehr spezifische Forschungsfragen maßgeschneidert werden muss, sind neben der XPS-Grundfunktion zusätzliche Module für spezielle spektroskopische Messverfahren erforderlich. Der Auftrag umfasst die Lieferung und Bereitstellung dieses hochkomplexen wissenschaftlichen Messsystems.
Aufteilung in Lose
1 LotDie Vergabe beinhaltet die Lieferung eines Röntgenphotoelektronenspektroskops (XPS)"
Zeitplan
- 20. Mai 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 30. Juni 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung