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300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikFrankfurt (Oder), GermanyVeröffentlicht 16. Juni 2026
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300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Zeitplan
- 16. Juni 2026Bekanntmachung veröffentlichtAuf TED publiziert
- 16. Juli 2026EinreichungsfristElektronische Einreichung