Wartung und Reparatur von Elektronenmikrosonde und Mikroskopen für hochradioaktive Proben
- Status
- Vergeben
- Angebotsfrist
- 15.04.2026, 12:00 (Europe/Berlin)
- Geschätzter Wert
- 240.000 EUR
- Lose
- 1
- Erfüllungsregion
- Deutschland
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Auftragsart
- Dienstleistung · Rahmenvereinbarung
- Veröffentlicht
- 13.03.2026
- CPV-Codes
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- Reparatur- und Wartungsdienste (50000000)
- Reparatur und Wartung von Messgeräten (50411000)
- Bekanntmachung
- ec.europa.eu
- Bekanntmachungsnummer
- 174476-2026
- Verfahrensnummer
- 6c01901c-1349-4ac5-b127-25e04a97e109
Fragenkatalog
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Kurzbeschreibung
Die Europäische Kommission, Generaldirektion Gemeinsame Forschungsstelle (JRC), am Standort Karlsruhe in Eggenstein-Leopoldshafen beschafft die vorbeugende Wartung, Reparatur und Ersatzteilversorgung für sieben Geräte zur Untersuchung der Mikrostruktur hochradioaktiver Proben. Dazu gehören eine abgeschirmte Elektronenstrahl-Mikrosonde, ein nuklearisierter Transmissionselektronenmikroskop (TEM), zwei nuklearisierte Rasterelektronenmikroskope (SEM), ein fokussierter Ionenstrahl (FIB) sowie zwei Standard-Rasterelektronenmikroskope. Der geschätzte Auftragswert beträgt 240.000 Euro, die Laufzeit 1.440 Tage; Angebote können bis zum 15. April 2026 um 10:00:59 Uhr (UTC) eingereicht werden.
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Leistungsbeschreibung
JRC Karlsruhe intends to make a call for tender for the maintenance of their equipment used for microstructure investigation. It consists in a set of devices including a shielded electron probe microanalyser (EPMA) a nuclearized Transmission Electron Microscope (TEM), two nuclearized Scanning Electron Microscopes (SEM), a Focused Ion Beam (FIB) as well as two standards SEM. The service will include preventive maintenance of the equipment and repairs as well as provision of spare parts.
Leistungen nach Losen (1)
LOT-0001 · Maintenance and repair of electron microprobe and microscopes for the examination of highly radioactive samples240.000 EUR
JRC Karlsruhe intends to make a call for tender for the maintenance of their equipment used for microstructure investigation. It consists in a set of devices including a shielded electron probe microanalyser (EPMA) a nuclearized Transmission Electron Microscope (TEM), two nuclearized Scanning Electron Microscopes (SEM), a Focused Ion Beam (FIB) as well as two standards SEM. The service will include preventive maintenance of the equipment and repairs as well as provision of spare parts.
Frist: 15.04.2026, 02:00 (Europe/Berlin)
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LOT-0001 · Maintenance and repair of electron microprobe and microscopes for the examination of highly radioactive samples
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Änderungen und Bieterfragen
1 Eintrag- 18.06.2026VergabebekanntmachungBekanntmachung 417369-2026
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