Hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Analyseausstattung

Status
Vergeben
Angebotsfrist
31.07.2026, 23:59 (Europe/Berlin)
Geschätzter Wert
Nicht angegeben
Lose
1
Erfüllungsregion
Bayern, Deutschland
Verfahren
Offenes Verfahren
Auftragsart
Lieferleistung
Veröffentlicht
01.07.2026
CPV-Codes
Mikroskope (38510000)
Bekanntmachung
evergabe.bayern.de
Bekanntmachungsnummer
452591-2026
Verfahrensnummer
7e99bb4e-2c45-4a0b-902a-f526c45c643f

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Kurzbeschreibung

Der Freistaat Bayern, vertreten durch die Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, beschafft ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop für den Standort Erlangen. Zum Leistungsumfang gehören Hoch- und Niedervakuumbetrieb, energiedispersive Röntgenmikroanalyse, Detektoren, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör sowie Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System soll unter anderem materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation ermöglichen; die Angebotsfrist endet am 31. Juli 2026.

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Leistungsbeschreibung

Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.

Leistungen nach Losen (1)

  • LOT-0001 · Rasterelektronenmikroskop

    Beschafft werden soll ein hochauflösendes analytisches Rasterelektronenmikroskop mit Hochvakuum- und Niedervakuumbetrieb, integrierter energiedispersiver Röntgenmikroanalyse, Detektorausstattung, Probenpositionierung, Steuer- und Auswertesoftware, Zubehör, Installation, Einweisung und Applikationstraining. Das System muss für materialwissenschaftliche Untersuchungen, hochauflösende Bildgebung, Elementanalysen, Elementverteilungsbilder, automatisierte Messabläufe und korrelative Probennavigation geeignet sein.

    Frist: 31.07.2026, 02:00 (Europe/Berlin)

Anforderungen an deinen Betrieb

Gemäß § 123, 124 GWB, § 57, 42 Abs. 1 VgV und § 16 VOB/A Gemäß § 56 Abs. 2 VgV, § 51 Abs. 2 SektVO, § 16a Abs. 1 VOB/A-EU. Mögliche Hinweise des Auftraggebers in den Vergabeunterlagen sind zu beachten.

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Änderungen und Bieterfragen

1 Eintrag
  1. 05.08.2026VergabebekanntmachungBekanntmachung 542070-2026

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