Hochauflösendes Rasterkraftmikroskop mit Hard- und Software
- Status
- Offen
- Angebotsfrist
- 27.11.2026, 10:00 (Europe/Berlin)
- Geschätzter Wert
- Nicht angegeben
- Lose
- 1
- Erfüllungsregion
- Bayern, Deutschland
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Auftragsart
- Lieferleistung
- Veröffentlicht
- 12.11.2026
- CPV-Codes
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- Mikroskope (38510000)
- Rastersondenmikroskope (38514200)
- Bekanntmachung
- evergabe.bayern.de
- Bekanntmachungsnummer
- 788958-2026
- Verfahrensnummer
- a45feccd-6a1d-4b68-9f10-603312e20f57
Fragenkatalog
Deine Fragen an die Ausschreibung, beantwortet aus Bekanntmachung und Unterlagen.
Kurzbeschreibung
Der Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Bayreuth, beschafft ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich der für den Betrieb erforderlichen Hard- und Software. Das System soll Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala charakterisieren, insbesondere bei 3D-Messungen in Flüssigkeiten und driftarmen Langzeitmessungen. Der Auftrag betrifft Bayreuth; die Angebotsfrist endet am 27. November 2026.
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Leistungsbeschreibung
Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.
Leistungen nach Losen (1)
LOT-0001 · Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)
Gegenstand der Beschaffung ist ein höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM) einschließlich aller für den Betrieb erforderlichen Hard- und Softwarekomponenten. Das System dient der hochauflösenden Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen auf Nano- und atomarer Skala, insbesondere für 3D-AFM-Messungen in Flüssigkeiten sowie driftarme Langzeitmessungen in Forschungsanwendungen.
Frist: 27.11.2026, 01:00 (Europe/Berlin)
Anforderungen an deinen Betrieb
Gemäß § 123, 124 GWB, § 57, 42 Abs. 1 VgV und § 16 VOB/A Gemäß § 56 Abs. 2 VgV, § 51 Abs. 2 SektVO, § 16a Abs. 1 VOB/A-EU. Mögliche Hinweise des Auftraggebers in den Vergabeunterlagen sind zu beachten.
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LOT-0001 · Höchstauflösendes Rasterkraftmikroskop (AFM)
- Preis
- 50 %
Vergabeunterlagen
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Zum UrsprungsportalAnforderungen
Gemäß § 123, 124 GWB, § 57, 42 Abs. 1 VgV und § 16 VOB/A Gemäß § 56 Abs. 2 VgV, § 51 Abs. 2 SektVO, § 16a Abs. 1 VOB/A-EU. Mögliche Hinweise des Auftraggebers in den Vergabeunterlagen sind zu beachten.
Änderungen und Bieterfragen
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