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| PR-Nummer: | PR1232549 | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Hauptauftragsgegenstand: | Hochtemperaturfähiger Curvetracer | |||||
| Menge: | 1 | |||||
| Ausgangslage und Kontext | ||||||
| Kurzbeschreibung/-zusammenfassung des Projektes und des Auftragsgegenstands | ||||||
| Das Kennlinienmesssystem dient der elektrischen Charakterisierung von Leistungshalbleitern und Leistungsmodulen. Dabei werden Strom-Spannungs-Kennlinien aufgenommen, insbesondere Ausgangskennlinien, Transferkennlinien und Sperrkennlinien (I-V Kurven / V-V Kurven / V-I Kurven / I-I Kurven). Das Kennlinienmesssystem soll aus mehreren SMUs bestehen, die über eine gemeinsame graphische Benutzeroberfläche konfiguriert und ausgelesen werden können. Dabei muss die Verwendung vom mindestens 2 SMUs parallel möglich sein z.B. um bei Messungen an einem MOSFET das Gate zu Steuern, während die Drain-Source- Strecke gemessen wird. Die Hauptanwendung liegt in der Vermessung von MOSFETs, SiC-MOSFETs, Dioden, IGBTs und GaN-Bauteilen. Das Messsystem wird für die vergleichende Charakterisierung von Bauteilen vor und nach Lebensdauertests, für begleitende Messungen in der Bauteilentwicklung sowie zur Datenblatterstellung eingesetzt. Hierzu sind hochgenaue Messungen von Strom und Spannung erforderlich. Der abzudeckende Strombereich reicht von 10pA zur Messung von Leckströmen bis 5kA zur Erfassung von Ausgangskennlinien. Die maximal erforderliche Spannung beträgt 15kV zur Charakterisierung von Halbleitern für Bahn-Anwendungen. Dabei wird mit gefährlichen Spannungen gearbeitet, weshalb entsprechende Schutzvorkehrungen und Sicherheitsmaßnahmen für einen sicheren Betrieb zwingend erforderlich sind. Um die für Lebensdauertest übliche hohe Anzahl von Bauteilen (>20) effizient charakterisieren zu können, soll optional eine Umschalteinrichtung zur sequentiellen Messung mehrerer Prüflinge ohne manuelles Eingreifen eines Bedieners angeboten werden. Die erforderliche Messgenauigkeit darf durch die Sicherheits- und Umschalteinrichtungen nicht beeinträchtigt werden. Fraunhofer Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB Schottkystr. 10 91058 Erlangen Germany Verwendungsstelle Labor E50 | ||||||
| Kommerzielle Rahmenbedingungen | ||||||
| Budget | ||||||
| Das Budget von 500.000,00 € netto darf nicht überschritten werden (ohne Optionen). Eine Überschreitung des Werts führt zum Ausschluss vom Verfahren | ||||||
| Leistungsverzeichnis | ||||||
| Legende Leistungskategorisierung | ||||||
| F | Forderung: Leistungsverzeichnispositionen, die in Spalte E mit einem F gekennzeichnet sind, müssen zwingend erfüllt werden (Mindestanforderung an die Leistung). Eine Nichterfüllung oder keine Angaben führen zum Ausschluss des Angebots. | |||||
| B | Bewertungskriterium: Leistungsverzeichnispositionen, die in Spalte E mit einem B gekennzeichnet sind, dienen der Bewertung der Angebote. Die genaue Bewertungsmethodik kann der Anlage "B_003_Zuschlagskriterien" entnommen werden. | |||||
| O | Optionen: Leistungsverzeichnispositionen, die in Spalte E mit einem O gekennzeichnet sind, werden im Rahmen der Angebotsauswertung bewertet. Falls Optionen bewertet werden, so kann die Bewertungsmethodik aus dem Dokument "B_001_VergabebedingungenAwardConditions" entnommen werden. Optionen müssen angeboten werden und fallen sowohl in die Preis- als auch in die technische Bewertung oder auch in eine gewichtete Bewertung und wird entsprechend im LV ausgewiesen. Das Nichtanbieten von Optionen führt zum Ausschluss. Optionen werden ggf. beauftragt. Die Beauftragung kann jedoch zu einem späteren Zeitpunkt erfolgen, welcher im LV angegeben wird. | |||||
| I | Information: Leistungsverzeichnispositionen, die in Spalte E mit einem I gekennzeichnet sind, fließen nicht in die Wertung der Angebote ein. Sie dienen der Übermittlung von Informationen und müssen zwingend beachtet werden. | |||||
| Bitte tragen Sie Ihre firmeneigene technische Beschreibung in das Dokument "C_001_Technische_Details_BieterName PRxxx" ein, damit die ausschreibende Stelle Ihr technisches Angebot fachgerecht mit dem Leistungsverzeichnis abgleichen kann. | ||||||
| Technische Beschreibung / Spezifikationen | ||||||
| LV Pos. | Bezeichnung der Leistungsposition | Beschreibung der Leistung | F/B/O/I | Punkte B- Kriterien (max. 100 Punkte) | Menge | Leistungseinheit |
| 1.1 | Kennlinienmesssystem | |||||
| 1.1.1 | Kennlinienmesssystem | Kennlinienmesssystem bestehend aus mehreren SMUs (Source Measure Units), die über eine gemeinsame Benutzeroberfläche konfiguriert und ausgelesen werden können um unterschiedliche Kennlinien (I-V Kurven / V-V kurven / V-I Kurven / I-I Kurven) an elektronischen Bauelementen zu messen. Dabei muss die Verwendung vom mindestens 2 SMUs parallel möglich sein. | F | |||
| 1.1.2 | Ausgangskennlinien | Messung von Ausgangskennlinienfeldern bis mindestens 2kA; | F | |||
| 1.1.3 | Ausgangskennlinene Pulsdauer | Gepulste Messungen mit Pulsdauer kleiner oder gleich 100µs; Bitte geben Sie die minimale Pulsdauer an. | B | 35 | ||
| 1.1.4 | Sperrkennlinie | Messung von Leckströmen bis zu einer Spannung von 2kV Stromauflösung der Messung der Sperrkennlinie besser als 1nA. Geben Sie die Auflösung an. | B | 35 | ||
| 1.1.5 | Sperrkennlinie | Messung von Leckströmen bis zu einer Spannung von 5kV Stromauflösung der Messung der Sperrkennlinie besser als 1nA | O | |||
| 1.1.6 | Sperrkennlinien | Zusätzliche Messung von Leckströmen bei mindestens 15kV zu 1.1.4 bzw. 1.1.5; Messauflösung besser 1nA | F | |||
| 1.1.7 | Gatespannung | Einstellung der Gatespannung zwischen mindestens -40V bis +40V und Messung des Gate-Leckstroms | F | |||
| 1.1.8 | Mehrfachmessungen | Messung von Ausgangskennlinienfeld, Sperrspannung/Leckstrom, Gate-Leckstrom und Vorwärtsspannung der Bodydiode ohne Änderung der Kontaktierung des Bauteils | F | |||
| 1.1.9 | Messabläufe | Automatische Durchführung mehrerer Messungen an einem Bauteil | F | |||
| 1.1.10 | CV-Messungen | Messung von C-V Kennlinien und Bauteilkapazitäten | O | |||
| 1.1.11 | Switch Matrix | Switch Matrix zur sequentiellen Messung von mindestens 6 Bauteilen ohne manuelle Änderung der Verkabelung / Kontaktierung der Prüflinge. Für den Fall einer Beeinträchtigung der Messgenauigkeit durch die Switch Matrix: Möglichkeit zum Anschluss der Prüflinge direkt an der SMU für Messungen mit erhöhten Anforderungen an die Messgenauigkeit | O | |||
| 1.1.12 | Hochstrom Ausgangskennlinie | Zusätzliche Messung von Ausgangskennlinien nach 1.1.1 bis 5kA | O | |||
| 1.2 | Probenaufnahme / Prüfkammer | |||||
| 1.2.1 | Prüfkammer | Prüfkammer zum Schutz gegen Berührung von Proben bei der Messung bis zur maximal möglichen Prüfspannung des Geräts | F | |||
| 1.2.2 | Prüfkammer Abmessungen | Innenabmessungen der Prüfkammer mindestens 450mmx400mm (Grundfläche) 450mm Höhe Bewertung nach Grundfläche 450x400. Bitte geben Sie Innenabmessung der Prüfkammer an. | B | 15 | ||
| 1.2.3 | Kabeldurchführung | Kabeldurchführung für 230V Schuko Stecker oder Steckdose In der Prüfkammer | F | |||
| 1.2.4 | Kabeldurchführung Thermoelement | Kabeldurchführung für ein Thermoelement | F | |||
| 1.2.5 | Mediendurchführung | Für Druckluft / Stickstoff / Vakuum z.B. über 8mm Schlauch. Mindestens gefordert ist eine Durchführung der vorher genannten Medien. Zusätzliche Durchführungen der genannten Medien führen zu einer besseren Bewertung. Eine zusätzliche Durchführung für den Schlauch eines Temperiergeräts "Thermostream" oder ähnlich mit einem Durchmesser von 60mm führen zu einer besseren Bewertung. Bitte geben Sie die vorhandenen Mediendurchführen an. | B | 15 | ||
| 1.2.6 | Abmessungen | Maximale Breite (ohne leicht zu entfernende Anbauteile wie z.B. Griffe) 900mm. Bedienung und Beladung von einer Seite. | F | |||
| 1.3 | Schnittstellen |
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| 1.3.1 | Steuerung über PC | Möglichkeit der Steuerung des Geräts über remote Schnittstelle von einem entfernten PC über LAN. Dokumentation der Schnittstelle | F | |||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1.3.2 | Temperaturkennlinien | Schnittstelle zur Steuerung eines InTest Thermostream zur automatischen Messung temperaturabhängiger Kennlinien | F | |||
| 1.3.3 | Datenexport | Export der Messdaten in ein dokumentiertes Format (z.B. csv, xml) | F | |||
| Spezielle Vorgaben, Qualität und Qualifikation | ||||||
| LV Pos. | Bezeichnung der Leistungsposition | Beschreibung der Leistung | F/B/O/I | Punkte B- Kriterien | Menge | Leistungseinheit |
| 2.1 | Kalibrierung | Werkskalibrierung aller enthaltenen Messgeräte / SMUs | F | |||
| Normen und Sicherheitsrichtlinien | ||||||
| LV Pos. | Bezeichnung der Leistungsposition | Beschreibung der Leistung | F/B/O/I | Punkte B- Kriterien | Menge | Leistungseinheit |
| 3.1 | Verriegelung | Mechanische Verriegelung des Prüfraums bei Messungen mit Spannungen über 60V | F | |||
| 3.2 | Entladeschaltung | Automatische Entladung der Prüflinge nach Öffnung der Messkammer | O | |||
| 3.3 | Spannungswächter | Überwachung der Spannung am Prüfling; Verriegelung der Prüfraumtür bis die Spannung unter Schutzkleinspannung (60V) gefallen ist. | O | |||
| Schulung und Einweisung | ||||||
| LV Pos. | Bezeichnung der Leistungsposition | Beschreibung der Leistung | F/B/O/I | Punkte B- Kriterien | Menge | Leistungseinheit |
| 4.1 | Schulung | Vor Ort Schulung von bis zu 5 Mitarbeitern im Umfang von 2AT zur Erstellung von Messprogrammen für gängige Halbleitertests: Ausgangskennlinie,Sperrkennlinie, Durchbruchspannung, Threshold Spannung, Transferkennlinie, Gate-Leckstrom ; Dokumentation zur Erstellung von Messprogrammen für die genannten Messungen. | F | |||
| Wartung | ||||||
| LV Pos. | Bezeichnung der Leistungsposition | Beschreibung der Leistung | F/B/O/I | Punkte B- Kriterien | Menge | Leistungseinheit |
| 5.1 | Kalibrierung | Jährliche Kalibrierung im Rahmen der durchzuführenden Wartung (Pos. 5.2) | O | |||
| 5.2 | Wartung | Wartungsvertrag, Laufzeit gem. dem beiliegenden Wartungsvertrag | O | |||
| Lieferung | ||||||
| LV Pos. | Bezeichnung der Leistungsposition | Beschreibung der Leistung | F/B/O/I | Punkte B- Kriterien | Menge | Leistungseinheit |
| 6.1 | Verwendungsstelle | Erdgeschoss, Ebenerdig erreichbar, Tür Breite 92cm, Raum E50, | I |