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Vergabenr. SPK-2026-00051
Anlage Mindestanforderungen
Mikro-Röntgenfluoreszenz- Spektrometersystems (µ-RFA)
Mindestanforderungen 1.1 Analytische Leistungsfähigkeit Der Bieter muss ein System anbieten, das: auf Mikro-Röntgenfluoreszenz (µ-XRF) basiert, zerstörungsfrei und berührungslos arbeitet, ortsaufgelöste Elementverteilungsanalysen ermöglicht, vollwertige MA-XRF-Kartierungen erzeugt, Spektren pixelweise speichert, quantitative oder semiquantitative Elementkarten erzeugt.
1.2 Messgeometrie Analyse an vertikaler Fläche möglich Analyse an horizontaler Fläche möglich Einsatz direkt am Kunstobjekt möglich
1.3 Scanner motorisierte Rasterabtastung Messbereich mindestens 600 × 800 mm Optimierung der Schärfentiefe für Messungen an unebenen Oberflächen Wiederholgenauigkeit ≤ 0,1 mm Röntgenröhrenanregung Luftgekühlte Mikrofocus-Röntgenröhre mit geeigneter Anode (z.B. Rhodium oder Molybdän) Messfleckgrößen am Objekt variable von < 100 µm bis > 400 µm
1.4 Röntgenröhrenanregung Luftgekühlte Mikrofocus-Röntgenröhre (mind. 50 kV) Messfleckgrößen am Objekt von unter 100 µm bis mindestens 400 µm
1.5 Detektion Silicon Drift Detector (SDD) gesamt Detektorfläche > 100 mm² (mehrere Detektoren möglich) Energieauflösung ≤ 150 eV bei Mn Kα Analyse mindestens von Mg/Al bis Uran (abhängig von Matrix und Messbedingungen) Helium-Spülung der Messzone zur Verbesserung der Nachweisgrenzen von Leichtelementen
1.6 Software Elementkarten ROI-Auswertung Linienprofile Spektrenauswertung Export offener Datenformate Mehrbenutzerbetrieb
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1.7 Strahlenschutz CE-Konformität Konformität mit Strahlenschutzrecht Risikobeurteilung deutsch- oder englischsprachige Dokumentation
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Wartung Mindestanforderung: 24 Monate Gewährleistung Reaktionszeit Service ≤ 5 Werktage Remote-Support
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Transport wiederverwendbares Transportsystem Transport des Messsystems innerhalb eines Museums durch maximal zwei Personen möglich
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Ersatzteile verbindliche Hersteller- oder Bietererklärung zur Ersatzteilverfügbarkeit ab Abnahme für 10 Jahre
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Schulung Mindestumfang: Installation Inbetriebnahme Anwenderschulung
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