Wafer-Burn-in-Test für Halbleiterscheiben
Fraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 · München, Deutschland · TED
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Zusammenfassung
Die Fraunhofer-Gesellschaft, Einkauf B12 in München, beschafft ein Stück für einen Wafer-Burn-in-Test, also eine Belastungsprüfung von Halbleiterscheiben. Die Leistung ist der Region Dresden (NUTS-Code DED41) zugeordnet; Angebote müssen bis zum 1. Oktober 2026 um 08:00 Uhr koordinierter Weltzeit eingereicht werden.
Vergabeunterlagen
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Vergabeunterlagen.pdf
PDF-Dokument · 2,4 MB
Leistungsverzeichnis.pdf
PDF-Dokument · 860 KB
Eigenerklärung.docx
Word-Dokument · 124 KB
Beschreibung
Wafer Burn In Test (ENAS-11.1.3)
Qualifikation
Es gelten alle einschlägigen zwingenden wie fakultativen Ausschlussgründe, die durch nationales Recht normiert sind. Siehe Vergabeunterlagen
Lose
1 Los1 pc. Wafer Burn In Test